CF-RLE-ME01型光學系統像差測量實驗

實驗簡介

實際光學系統成像與理想光學系統成像的差異成為像差。光學系統成像理論是《工程光學》課程重要章節，也是教學的難點章節，針對此知識點的教學實驗產品匱乏。RealLight^®開發的像差測量實驗採用專門設計的像差鏡頭，像差現象清晰；涉及知識點緊貼像差理論的重點內容，是學生掌握像差理論非常理想的教學實驗系統。

實驗內容

1、平行光管的使用及平行光的檢驗；

2、軸上位置色差的測量實驗；

3、球差、彗差、像散、場曲的星點法觀測實驗；

4、刀口儀陰影法觀測光學系統像差實驗；

5、剪切干涉法測量球差鏡頭初級像差係數實驗；

6、剪切干涉法測量光路軸向離焦量實驗；

7、光學系統像差計算及結果模擬實驗。

儀器配置與技術參數

     1、光源組件：

氦氖雷射器：P>1.5mW,TEM₀₀,全保護安全高壓插頭，雙開關設計（安全鑰匙、按鍵）符合CE要求。

2、平行光組件：

光源：白光/三色LED，P>1W，亮度連續可調；

平行光管：D/F=1:8，L=550mm，φ50mm，f=400mm；

分化板精度：RP=5C/mm，線寬度75μm，精度1μm；

星點孔：Φ15μm，精度1μm。

3、光學元件：

成像鏡頭：f=16mm，F1.4；

光學平鏡：Φ50mm，Tc=20mm，平行度<2″，面型λ/10,光潔度Ⅳ級。

4、探測器組件：

數位CMOS相機，130萬圖元，圖元大小5.2μm×5.2μm，USB2.0，A/D：10bit。

5、像差鏡頭組件：

鏡頭類型：單一場曲、球差、彗差、像散，通光孔徑Φ10mm～40mm，AR@400nm～700nm。

6、刀口儀組件：

尺寸L×W=95mm×55mm，行程L=30mm，允許焦點大小<Φ12mm，微調解析度0.01mm

7、機械元件：

精密光學導軌：L×W=1200mm×90mm，配套滑塊、一維移動滑塊、調節支座、支杆；

高精度調節鏡架：穩定性＜2′。

8、空間濾波器元件：

40×顯微物鏡，15μm針孔，精密三維調整機構，微調精度0.002mm

9、軟體元件

像差計算模擬軟體，二維偽彩色，三維計算結果演示，剪切法像差計算軟體，圖像採集，USB2.0軟體鎖。

CF-RLE-ME02型光電式焦距/傳遞函數測量實驗

實驗簡介

焦距是光學系統的基本參數，工程上焦距測量普遍使用光電法經行測量。RealLight ^?設計開發的焦距測量儀測試方法與工程相同，開放式系統便於知識點講授與學識實驗操作。光學系統像質評價工程上主要採用分辨率直讀法和調製傳遞函數（MTF）測量法。分辨率直讀法測量多用於大像差系統，實驗簡便直觀；MTF測量法適用於高分辨率的光學系統。本產品適合光電專業本科生教學實驗，高職院校實訓設備，亦可作為工廠生產檢測設備使用。

 實驗內容

  1、正透鏡焦距測量；

  2、負透鏡焦距測量；

  3、分辨率板直讀法測量光學系統分辨率實驗；

  4、基於線擴散函數測量光學系統MTF值實驗。

儀器配置與技術參數

      1 、焦距測量範圍： ±5mm～±150mm。

      2 、系統測試精度： ±2%。

      3 、平行光管組件：

          光源：白光LED，P>1W，亮度連續可調；

          平行光管：D／F=1:8,L=550mm，φ50mm，f=400mm；

          線目標物：線寬度30／75μm，精度1μm。

      4 、機械組件：

          精密光學導軌：L×W=1200mm×90mm，配套滑塊、一維平移滑塊、調節支座、支桿；

          自定心透鏡架：Φ6mm～Φ40mm，穩定性<2′。

      5 、光學組件

          分辨率測量目標板：美軍標準USAF1951標準圖案，

          分辨率1～228C／mm，精度1μm；

          待測透鏡：Φ25.4mm，f=-50mm～100mm，隨系統配送3塊。

      6 、探測器組件：

          數字CMOS相機：130萬像素，像素大小5.2μm×5.2μm，USA2.0，A／D：10bit。

      7 、軟件組件：

          圖像採集圖像計算模塊，焦距測量模塊，傳遞函數測量模塊，USB2.0軟件鎖。