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CF-RLE-ME01型光學系統像差測量實驗

實驗簡介

實際光學系統成像與理想光學系統成像的差異成為像差。光學系統成像理論是《工程光學》課程重要章節,也是教學的難點章節,針對此知識點的教學實驗產品匱乏。RealLight®開發的像差測量實驗採用專門設計的像差鏡頭,像差現象清晰;涉及知識點緊貼像差理論的重點內容,是學生掌握像差理論非常理想的教學實驗系統。

實驗內容

1、平行光管的使用及平行光的檢驗;

2、軸上位置色差的測量實驗;

3、球差、彗差、像散、場曲的星點法觀測實驗;

4、刀口儀陰影法觀測光學系統像差實驗;

5、剪切干涉法測量球差鏡頭初級像差係數實驗;

6、剪切干涉法測量光路軸向離焦量實驗;

7、光學系統像差計算及結果模擬實驗。

儀器配置與技術參數

     1、光源組件:

氦氖雷射器:P>1.5mW,TEM00,全保護安全高壓插頭,雙開關設計(安全鑰匙、按鍵)符合CE要求。

2、平行光組件:

光源:白光/三色LED,P>1W,亮度連續可調;

平行光管:D/F=1:8,L=550mm,φ50mm,f=400mm;

分化板精度:RP=5C/mm,線寬度75μm,精度1μm;

星點孔:Φ15μm,精度1μm。

3、光學元件:

成像鏡頭:f=16mm,F1.4;

光學平鏡:Φ50mm,Tc=20mm,平行度<2″,面型λ/10,光潔度Ⅳ級。

4、探測器組件:

數位CMOS相機,130萬圖元,圖元大小5.2μm×5.2μm,USB2.0,A/D:10bit。

5、像差鏡頭組件:

鏡頭類型:單一場曲、球差、彗差、像散,通光孔徑Φ10mm~40mm,AR@400nm~700nm。

6、刀口儀組件:

尺寸L×W=95mm×55mm,行程L=30mm,允許焦點大小<Φ12mm,微調解析度0.01mm

7、機械元件:

精密光學導軌:L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維移動滑塊、調節支座、支杆;

高精度調節鏡架:穩定性<2′。

8、空間濾波器元件:

40×顯微物鏡,15μm針孔,精密三維調整機構,微調精度0.002mm

9、軟體元件

像差計算模擬軟體,二維偽彩色,三維計算結果演示,剪切法像差計算軟體,圖像採集,USB2.0軟體鎖。

 

CF-RLE-ME02型光電式焦距/傳遞函數測量實驗

實驗簡介

焦距是光學系統的基本參數,工程上焦距測量普遍使用光電法經行測量。RealLight ?設計開發的焦距測量儀測試方法與工程相同,開放式系統便於知識點講授與學識實驗操作。光學系統像質評價工程上主要採用分辨率直讀法和調製傳遞函數(MTF)測量法。分辨率直讀法測量多用於大像差系統,實驗簡便直觀;MTF測量法適用於高分辨率的光學系統。本產品適合光電專業本科生教學實驗,高職院校實訓設備,亦可作為工廠生產檢測設備使用。

 實驗內容

  1、正透鏡焦距測量;

  2、負透鏡焦距測量;

  3、分辨率板直讀法測量光學系統分辨率實驗;

  4、基於線擴散函數測量光學系統MTF值實驗。

儀器配置與技術參數

      1 、焦距測量範圍: ±5mm~±150mm。

      2 、系統測試精度: ±2%。

      3 、平行光管組件:

          光源:白光LED,P>1W,亮度連續可調;

          平行光管:D/F=1:8,L=550mm,φ50mm,f=400mm;

          線目標物:線寬度30/75μm,精度1μm。

      4 、機械組件:

          精密光學導軌:L×W=1200mm×90mm,配套滑塊、一維平移滑塊、調節支座、支桿;

          自定心透鏡架:Φ6mm~Φ40mm,穩定性<2′。

      5 、光學組件

          分辨率測量目標板:美軍標準USAF1951標準圖案,

          分辨率1~228C/mm,精度1μm;

          待測透鏡:Φ25.4mm,f=-50mm~100mm,隨系統配送3塊。

      6 、探測器組件:

          數字CMOS相機:130萬像素,像素大小5.2μm×5.2μm,USA2.0,A/D:10bit。

      7 、軟件組件:

          圖像採集圖像計算模塊,焦距測量模塊,傳遞函數測量模塊,USB2.0軟件鎖。

 

 


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